【洁净话题】TCTA ISSUE 1 :半导体厂晶圆先进制程之关键技术-晶圆盒开门时的湿度控制

过去的十五年里前开门晶圆盒系统(FOUP(Front Opening Unified Pod)/LPU(Load-port Unit))已被多数十二吋半导体厂所采用且已被证明其可提供一无(或非常少)粒子污染之环境,唯其未能提供无(或非常少)
水,氧或气态分子之制造环境。然而晶圆在晶圆传送盒门开启后,于微环境内待转入制程的腔体内过程中亦非常容易受到污染。

如何有效的阻止微环境水气进入 FOUP 内,是需要立即被解决及控制的问题。晶圆传送盒门开启后充以氮气或洁净干空气之公开文献仍少,技术上有相当的挑战性,唯却是先进制程迫切需要的,为了克服上述的挑战,本文提出新的 Solution,门开启时,于 loadport 和 FOUP 交接处产生均匀气帘之装置产生下吹气帘,隔绝EFEM(Equipment Front End Module)气流侵入 FOUP。

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